電子器件高低溫沖擊試驗箱是提供給電子器件在瞬間下經*溫及極低溫的連續(xù)環(huán)境下忍受的程度，得以在最短時間內檢測試樣因熱脹冷縮所引起的化學變化或物理傷害。本試驗箱不僅適合電子器件使用,還是光電、金屬、塑料、LED、橡膠、電子等工業(yè)材料行業(yè)*的試驗設備，結構分為兩箱式和三箱式，區(qū)別在于試驗方式和內部結構不同，產品符合標準為：GB-T10592-2008、GB/T2423.2-2008試驗B、GB/T2423.1-2008試驗A 、GJB150.3-198、GJB360A-96方法107溫度沖擊試驗的要求。

技術參數:

1.內箱尺寸最小：W350mm*H400mm*D350mm(本公司還有眾多標準尺寸可選擇,也可定制非標尺寸）

2.外箱尺寸：以實際尺寸為標準。

3.高溫槽預熱溫度范圍：+60℃～200℃；

4.升溫時間： +60℃～200℃≤30min；

5.低溫槽預冷溫度范圍： -75～-10℃；

6.降溫時間： +20℃～-75℃≤60min；﹙注：降溫時間為低溫槽單獨運轉時的性能﹚

7.試驗方式： 氣動風門切換

8.溫度沖擊范圍： ﹙+60℃～+150℃﹚/﹙-65℃～-10℃﹚

9.溫度偏差： ±2.0℃

10.溫度波動度： ±0.5℃

11溫度恢復時間： ≤5分鐘

12.試樣限制：本實驗設備禁止易爆、易燃、易揮發(fā)性物質試樣的試驗或儲存；腐蝕性物質試樣的試驗或儲存；

電子器件高低溫沖擊試驗箱破壞能力*，功率比普通高低溫試驗箱高出許多倍。所以技術難度及成本也相對高許多。該試驗設備主要用于對電工、電子產品，以及其元器件等各類產品按照國家標準要求或用戶自定要求，在高溫與低溫瞬間變化條件下，對原產品的物理以及其他相關特性進行環(huán)境模擬試驗，試驗后，通過檢測，來判斷相關產品的性能是否仍然能夠符合預定要求，以便供各類產品的設計、改進、鑒定及出廠檢驗用。如有需要請找生產廠家東莞市柳沁檢測儀器有限公司,價格及質量上有優(yōu)勢,歡迎前來咨詢,謝謝。